半导体产品，又被称为集成电路或者IC。在半导体测试中常用DUT来表示需要检测的IC单元。半导体检测的主要目的，是利用测试设备执行设定好的测试工作，然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范，而这些参数值会记录在规格表中。
　　一般测试系统会根据测试项目不同提供不同的测量参数。例如直流测试、功能测试、交流测试等。直流测试，是验证IC的电压与电流值；功能测试，是验证其逻辑功能是否正确；交流测试则是验证其是否在正确的时间点上进行设定的功能。
　　在半导体检测过程中通常需要测试程序来控制测试系统的硬件，并对每次的测试结果，作出判断Pass或Fail。如果测试结果符合设计的要求则Pass，相反地，不符合设计时则为Fail。所以在搭建您的测试系统时要明确您的产品需要进行哪种测试。