半导体器件生产中，从半导体单晶片到制成成品，须经历上百道工序。为了让产品性能合格、稳定，并有高的成品率，根据各产品的生产情况，对工艺步骤都要有严格的具体要求。因而，在生产过程中建立相应的系统和监控措施，先要从半导体工艺检测着手。
             半导体检测的项目繁多，内容较广，方法多种多样，可粗分为两类。一类是半导体晶片在经历每步工艺加工前后或加工过程中进行的检测，也就是半导体器件和集成电路的半成品或成品的检测。二类是对半导体单晶片以外的原材料、生产环境、工艺设备、工具、掩模版和其他工艺条件所进行的检测。
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